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首頁 LCR測試儀 HIOKI 3511-50 LCR 測試儀

HIOKI 3511-50 LCR 測試儀

高速測量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) / 高精度:± 0.08% / 內置比較器

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簡介
  • 高速測量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz)
  • 高精度:± 0.08%
  • 內置比較器


HIOKI 3511-50    
2017-03-13    
   


測量參數 │Z│,θ,C,L,D,Q,R
測量方法 測量源:定電壓50mV,500mV,1Vrms(AC)
檢測:電壓,AC
測量頻率 120Hz或1kHz
測量檔位 │Z│,R:10mΩ~200.00MΩ(視條件而定)
θ: -90.00~+90.00 ° C:0.940pF~999.99mF
L: 1.600μH~200.00kH,D:0.0001~1.9900
Q: 0.85~999.99
基本精度 │Z│: ± 0.08%rdg.,θ: ± 0.05 °
測量時間 快速:5ms~慢速:300ms(1kHz)
快速:30ms~慢速:400ms(120Hz)
顯示 最大顯示值99999, LED顯示
比較器功能 設定:上、下限值,絕對值 輸出:3檔(高,中,低),開路集電極,隔離
顯示位元數設置 可設置3~7位元的顯示位元數,初始值爲6位
測量時間 0.5ms(100kHz、FAST、顯示關,代表值)
測量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
DC偏壓測量 普通模式:DC0V~2.50V(10mV步進)
低阻抗高精度模式:DC0V~1.00V(10mV步進)
直流電阻測量 普通模式:測量信號電平
DC100mV~2.5V(10mV步進)
低阻抗高精度模式:測量信號電平
DC100mV~1.00V(10mV步進) 
比較器 LCR模式:第1、第3專案的Hi/IN/Lo
分析模式:
區域判斷(各點的Hi/IN/Lo)、
峰值判斷(極大、極小的頻率和絕對值的Hi/IN/Lo) 
電源供應 交流100~240V,50/60Hz(可選擇)
體積及重量 210寬 × 100高 × 168厚mm,2.5kg
附件 電源線(1),保險絲(1)


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