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首頁 LCR測試儀 HIOKI 3532-50 LCR 測試儀

HIOKI 3532-50 LCR 測試儀

量測頻率可在42Hz到5MHz之間任意自由調整 / 操作更加簡便,觸控式的螢幕,使得變更設定值更加的容易 / 測量頻率 42Hz~5MHz

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簡介
  • 量測頻率可在42Hz到5MHz之間任意自由調整
  • 能更容易量測出被測物在高頻時的特性
  • 操作更加簡便,觸控式的螢幕,使得變更設定值更加的容易


HIOKI 3532-50    
2015-05-21    
   


測量參數 │Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
測量方法 測量源:定電流10μ~100mA(42Hz~1MHz),50μ~20mA (1MHz~5MHz)
或定電壓10mV~5V(42Hz~1MHz),50mV~1V(1MHz~5MHz)
檢測:電壓,AC
測量頻率 42Hz~5MHz
測量檔位 │Z│,R,X:10.00mΩ~200.00MΩ(視條件而定)
θ:-180.00~+180.00o,C:0.3200pF~370.00mF
L:16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999
Q:0.01~999.99, Y,G,B:5.0000nS~99.999S
基本精度 │Z│: ± 0.08% rdg.,θ: ± 0.05°
測量時間│Z│的典型值 快速:5ms~慢速2:140ms
顯示

最大顯示值99999,LCD背光功能

比較器功能 設定:上、下限值,百分比或絕對值 輸出:3檔(高,中,低),開路集電極,絕緣
電源供應 100~240V AC 50/60Hz
體積及重量 352寬 x124高 x 323厚mm,6.5kg
附件 電源線(1),保險絲(1)


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