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首頁 LCR測試儀 HIOKI 3535 LCR 測試儀

HIOKI 3535 LCR 測試儀

100kHz~120MHz的寬頻帶 / BIN分料功能(10組) / 200測定設定紀錄 / 高速LCR測試(6ms/採樣) / LOAD補償功能

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簡介
  • 100kHz~120MHz的寬頻帶
  • BIN分料功能(10組)
  • 200測定設定紀錄
  • 高速LCR測試(6ms/採樣)
  • LOAD補償功能


HIOKI 3535    
2015-05-21    
   


測量參數 |Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ)
前置放大器
決定的測量量程
  1k檔位 10k檔位 100k檔位
Z和R 100mΩ~2kΩ 1kΩ~20kΩ 10kΩ~300kΩ
C 0.66pF~15.9μF 0.066pF~15.9nF 4.4pF~159pF
L 0.133nH~3.18mH 1.33μH~31.8mH 13.3μH~477mH
θ -180.00°~180.00°
測量頻率 頻率 100kHz~120MHz
解析度設置 4位
100.0kHz~1.000MHz 100Hz幅度
1.000MHz~10.00MHz 1kHz幅度
10.00MHz~100.0MHz 10kHz幅度
100.0MHz~120.0MHz 100kHz幅度
  使用GP-IB或RS-232C介面時,解析度為1Hz。
精度 最大 ± 0.005%,相對於設置值
測量電壓 開路介面電壓(V)
和定電壓(CV)模式
5mV~1V,最大20mA(10.000MHz以下)
5mV~500mV,最大10mA(10.01MHz以上)
解析度 1mV幅度
精度 ±(5%+5mV)×(2+log f)(f為MHz數)
定電流(CC)模式 200μA~20mA,最大1V(10.00MHz以下)
200μA~10mA,最大0.5V(10.01MHz以上)
解析度 10A幅度
精度 ±(10%+50μA)× (2+log f)(f為MHz數)
基本精度 Z:± 0.5%rdg. θ:± 0.3°
測頭阻抗 50Ω ± 10Ω(100kHz時)
監視 電壓0.000V~1.000V
電流0.000mA~20.0mA
限制 電壓(設置為CC) 0.005V~1.000V
電流(設置為V或CV) 0.20mA~20.00mA
觸發 內置觸發器,外置觸發器
觸發延時 0.01s~9.99s;0.01s解析度
比較 可得到兩組測量參數:百分比,△%,或絕對值設置(△%即顯示測量值與標準值的偏差)
設定儲存 最多30組
螢幕顯示 測量值和比較器的判斷結果
顯示線數 可設置成3,4,或5;根據參數可能有所不同
列印 拷貝測量值或螢幕顯示
介面 GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(標準)
操作環境 10~40°C,最大80%rh,無凝結
倉儲環境 -10~55°C,最大80%rh,無凝結
供電電源 交流100V~240V,50/60Hz,約50VA
體積及重量 約360寬×130高×360厚(mm);8.3kg
附件 快速測量手冊×1,使用說明書×1,電源線×1


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